Informations
-
Secrétariat: SAC
Manager du comité: -
Président(e) (jusqu'à fin 2021):Mr Jiang Zhao
-
Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:Responsable de programmes éditoriaux ISO [EPM]:
- Date de création: 1991
Domaine des travaux
Normalisation dans le domaine de l'analyse par microfaisceaux (mesurage, paramètres, méthodes et matériaux de référence) qui utilise des électrons comme rayon incident et des ions ou des photons comme signal de détection.
Note:
L'objet consiste à analyser les caractéristiques de composition et de structure des matériaux solides. Le volume analysé fera généralement intervenir une profondeur jusqu'à 10 micromètres et une aire inférieure à 100 micromètres carrés.
Liens utiles
-
Programme technique
Projets de travail et nouveaux projets préliminaires -
Plans d'action
Plans d'action pour examen public -
Espace de travail
sur ISOTC et le dossier "Public information" -
Applications électroniques ISO
Outils TI pour l'élaboration des normes
Ce comité contribue avec 2 normes à l'Objectif de développement durable suivant :
| Référence | Titre | Type |
|---|---|---|
| ISO/TC 202/SC 1 | Terminologie | Sous-comité |
| ISO/TC 202/SC 2 | Microanalyse par sonde à électrons | Sous-comité |
| ISO/TC 202/SC 3 | Microscopie analytique à électrons | Sous-comité |
| ISO/TC 202/SC 4 | Microscopie électronique à balayage | Sous-comité |
| ISO/TC 202/AG | Orientations futures dans l’analyse par microfaisceaux | Groupe de travail |
| ISO/TC 202/WG 1 | Procédures générales et gestion des donnés | Groupe de travail |
| ISO/TC 202/WG 4 | Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie | Groupe de travail |
| ISO/TC 202/WG 9 | Lignes directrices applicables à l'analyse des erreurs d'orientation dans l'évaluation des dommages mécaniques par EBSD | Groupe de travail |
| ISO/TC 202/WG 10 | Analyse par microfaisceaux – Diffraction d’électrons rétrodiffusés des produits en acier | Groupe de travail |
Comités en liaison vers le ISO/TC 202
Les Comités ci-dessous peuvent accéder aux documents du ISO/TC 202:
| Référence | Titre | ISO/CEI |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Analyse chimique des surfaces | ISO |
| ISO/TC 201/SC 10 | Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Comités en liaison depuis le ISO/TC 202
ISO/TC 202 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :
| Référence | Titre | ISO/CEI |
|---|---|---|
| ISO/TC 201 | Analyse chimique des surfaces | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 202 - Secrétariat
Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76