Informations

  • Secrétariat: JISC
    Manager du comité:
    Dr Satoshi Gonda
  • Président(e) (jusqu'à fin 2020):
    Dr Hidehiko Nonaka
  • Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:
    Ms Monja Korter
    Responsable de programmes éditoriaux ISO [EPM]:
    Ms Jasmin Lewis
  • Date de création: 1991

Domaine des travaux

Normalisation dans le domaine de l'analyse chimique des surfaces. L'analyse chimique des surfaces comprend des techniques d'analyse où les faisceaux d'électrons, d'ions, d'atomes ou de molécules neutres, ou de photons sont incidents sur le matériau de l'échantillon et où des électrons, des ions, des atomes ou molécules neutres, ou des photons diffusés ou émis, sont détectés. Elle comprend également des techniques par balayage des surfaces à l'aide de sondes et détection des signaux liés à ces surfaces.

A l'exclusion :

  • de la miscroscopie électronique à balayage qui est du domaine des travaux de l'ISO/TC 202.

Note:

Les techniques actuelles d'analyse chimique des surfaces permettent d'obtenir des données analytiques pour des régions proches d'une surface (généralement à moins de 20 nm) et des données analytiques en fonction de la profondeur peuvent être obtenues par des techniques d'analyse des surfaces sur des profondeurs plus importantes.

Liens utiles

71

Normes ISO publiées *

apparentées au comité et ses SCs

dont 7 sous la responsabilité directe du ISO/TC 201

14

Projets de normes ISO *

apparentées au comité et ses SCs

dont 2 sous la responsabilité directe du ISO/TC 201

14

Membres participants

14

Membres observateurs

* ce nombre inclut les mises à jour

Référence Titre Type
ISO/TC 201/SC 1 Terminologie Sous-comité
ISO/TC 201/SC 2 Procédures générales Sous-comité
ISO/TC 201/SC 3 Gestion et traitement des données Sous-comité
ISO/TC 201/SC 4 Profilage d'épaisseur Sous-comité
ISO/TC 201/SC 6 Spectrométrie de masse des ions secondaires Sous-comité
ISO/TC 201/SC 7 Spectroscopies d'électrons Sous-comité
ISO/TC 201/SC 8 Spectroscopie à décharge lumineuse Sous-comité
ISO/TC 201/SC 9 Microscopie par sonde à balayage Sous-comité
ISO/TC 201/SC 10 Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X Sous-comité
ISO/TC 201/SG 1 Caractérisation des nano-matériaux Groupe de travail
ISO/TC 201/WG 4 Caractérisation des surfaces des biomatériaux Groupe de travail
ISO/TC 201/WG 5 Analyse de l'interface optique Groupe de travail

Comités en liaison vers le ISO/TC 201

Les Comités ci-dessous peuvent accéder aux documents du ISO/TC 201:

Référence Titre ISO/CEI
IEC/TC 113 Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électrotechnologiques IEC
ISO/TC 107 Revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques ISO
ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201

ISO/TC 201 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

Référence Titre ISO/CEI
IEC/TC 113 Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électrotechnologiques IEC
ISO/TC 150 Implants chirurgicaux ISO
ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

 

Organisations en liaison (Catégories A et B)

Sigle Titre Catégorie
IUPAC International Union of Pure and Applied Chemistry A
IUVSTA International Union for Vacuum Science, Technique and Applications A
VAMAS Versailles Project on Advanced Materials and Standards A

Date Mois Lieu TC/SC Note
  2020   ISO/TC 201/SC 1 **

* Information définitive mais réunion pas encore convoquée
** Provisoire

ISO/TC 201 - Secrétariat

JISC [Japon]

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST)
AIST Tsukuba Central 2
1-1-1 Umezono, Tsukuba
Ibaraki 305-8568
Japon

Secrétariat direct:

Dr Satoshi Gonda