недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of the multi-layered materials recorded by using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and the cross-sectional elemental mapping images by using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to the digitized image recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate and the digitalized image converted from an analogue image recorded on the photographic film by an image scanner.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2017-11
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 3
    Analytical electron microscopy
  • 37.020
    Optical equipment
    71.040.50
    Physicochemical methods of analysis

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF158

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 20263:2017

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.