недоступно на русском языке

Приобрести

Тезис Предпросмотр

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2014-04
  • Версия : 2
    Число страниц : 20
  • Технический комитет
    :
    ISO/TC 202/SC 1
    Terminology
  • ICS :
    37.020
    Optical equipment
    01.040.37
    Image technology (Vocabularies)

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Ранее
    ISO 22493:2008
  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 22493:2014

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах