Тезис Предпросмотр
ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.
ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2014-04
-
Версия : 2
-
- ICS :
-
Optical equipment
-
Image technology (Vocabularies)
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| PDF + ePub | ||
| Бумажный |
- CHF118
Жизненный цикл
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Изменения / Исправления
-
Ранее
ISO 22493:2008
-
Сейчас на стадии пересмотра
ISO 22493:2014
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.