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ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.


Informations générales

  • État actuel :  Publiée
    Date de publication : 2015-07
  • Edition : 1
  • :
    ISO/TC 172/SC 9
    Lasers et systèmes électro-optiques
  • 31.020
    Composants électroniques en général

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