ISO/AWI 16666
u
ISO/AWI 16666
84747

Тезис

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.


Общая информация 

  •  :  Under development
  •  : 1
  •  : ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis
  •  :

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.