Тезис 

This document describes the standard procedures for the quantitative use of Kelvin probe force microscopy (KPFM). It includes reproducible measurements of contact potential differences (CPD), reliable deduction of the work function of the KPFM probe-tip in use, and quantitative evaluation of the lateral resolutions of CPD imaging with KPFM. This document is applicable to the quantitative analysis of KPFM surface potential imaging of solid material surfaces at the nanoscale.


Общая информация

  • Текущий статус :  Under development
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 201/SC 9
    Scanning probe microscopy

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.