Тезис Предпросмотр
This document specifies spectroscopic ellipsometry for the determination of optical properties (refractive index n and extinction coefficient k) and the optical classification of different types of amorphous carbon films within the n-k plane.
It is applicable to amorphous carbon films deposited by ionized evaporation, sputtering, arc deposition, plasma-assisted chemical vapour deposition, hot filament techniques and others.
It does not apply to carbon films modified with metals or silicon, amorphous carbon films that have a gradient of composition/property in the thickness, paints and varnishes.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2021-05
-
Версия : 1
-
- ICS :
-
Other treatments and coatings
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| PDF + ePub | ||
| Бумажный |
- CHF58
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.