ISO 29301:2017 Предпросмотр

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

недоступно на русском языке

ISO 29301:2017 specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon. This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar. This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2017-12
  • Версия : 2
    Число страниц : 44
  • :
    ISO/TC 202/SC 3
    Analytical electron microscopy
  • 37.020
    Optical equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF158

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

Subscribe