Тезис Предпросмотр
This document presents a list of common practices in preparation methods of metallographic specimens for optical and scanning electron microscopy, including preliminary preparation, grinding and polishing of specimens as well as microstructure revelation methods covering the optical method, etching methods (chemical, electrolytic, constant potential, ion sputtering and high temperature relieving) and the interface layer method [1][2].
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2022-07
-
Версия : 1
-
Технический комитет:Methods of testing (other than mechanical tests and chemical analysis)
-
- ICS :
-
Steels
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| PDF + ePub | ||
| Бумажный |
- CHF88
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.