недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 14594:2014 gives the general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the primary beam, the wavelength spectrometer, and the sample that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of beam current, current density, dead time, wavelength resolution, background, analysis area, analysis depth, and analysis volume.

It is intended for the analysis of a well-polished sample using normal beam incidence, and the parameters obtained can only be indicative for other experimental conditions.

It is not designed to be used for energy dispersive X-ray spectroscopy.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2014-10
  • Версия : 2
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Electron probe microanalysis
  • 71.040.50
    Physicochemical methods of analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF88

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.