недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2017-08
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 201/SC 7
    Electron spectroscopies
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF118

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас
    ISO 19668:2017

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.