ISO 22493:2014
p
ISO 22493:2014
64932
недоступно на русском языке

Тезис  Предпросмотр

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.


Общая информация 

  •  :  Published
     : 2014-04
  •  : 2
  •  : ISO/TC 202/SC 1 Terminology
  •  :
    37.020 Optical equipment
    01.040.37 Image technology (Vocabularies)

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 118 PDF + ePub
std 2 118 Бумажный
  • CHF118

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.