недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2014-01
  • Версия : 2
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Electron probe microanalysis
  • 71.040.99
    Other standards related to analytical chemistry

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF58

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.