Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2016. Поэтому данная версия остается актуальной
Тезис Предпросмотр
ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.
This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.
Общая информация
-
Текущий статус : PublishedДата публикации : 2011-12
-
Версия : 1
-
- ICS :
-
Non-destructive testing
Приобрести данный стандарт
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| Бумажный |
- CHF38
Жизненный цикл
-
Сейчас
PublishedISO 16526-1:2011
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.20 (Hа стадии пересмотра)
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.