недоступно на русском языке

Приобрести

Тезис Предпросмотр

ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.

This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2011-12
  • Версия : 1
  • Технический комитет
    :
    ISO/TC 135/SC 5
    Radiographic testing
  • ICS :
    19.100
    Non-destructive testing

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF38

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Подтверждено
    ISO 16526-1:2011

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах