ISO 16526-1:2011
p
ISO 16526-1:2011
57042
недоступно на русском языке

Тезис  Предпросмотр

ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.

This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.


Общая информация 

  •  :  Published
     : 2011-12
  •  : 1
  •  : ISO/TC 135/SC 5 Radiographic testing
  •  :
    19.100 Non-destructive testing

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 38 PDF
std 2 38 Бумажный
  • CHF38

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.