недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO/TS 24597:2011 specifies methods of evaluating the sharpness of digitized images generated by a scanning electron microscope by means of a Fourier transform method, a contrast-to-gradient method and a derivative method.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2011-06
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 4
    Scanning electron microscopy (SEM)
  • 37.020
    Optical equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF198

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Подтверждено
    ISO/TS 24597:2011

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.