Тезис 

ISO 14997:2011 establishes the physical principles and practical means for the implementation of methods for measuring surface imperfections. This method evaluates the surface area obscured or affected by the imperfections.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2011-04
  • Версия : 2
  • Технический комитет
    :
    ISO/TC 172/SC 1
    Fundamental standards
  • ICS :
    37.020
    Optical equipment

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 172/SC 1
  6. ISO 14997:2011