недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using

wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally

across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is

assessed. It describes five types of data processing: the raw X‑ray intensity data method, the k‑value method,

the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2012-03
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Electron probe microanalysis
  • 71.040.50
    Physicochemical methods of analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF58

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.