Тезис 

ISO 22493:2008 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

The vocabulary is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of the vocabulary are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2008-10
  • Версия : 1
    Число страниц : 22
  • :
    ISO/TC 202/SC 1
    Terminology
  • 37.020
    Optical equipment
    01.040.37
    Image technology (Vocabularies)

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 22493:2008
  • Пересмотрен
    ISO 22493:2014

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах