недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2005-11
  • Версия : 1
    Число страниц : 9
  • :
    ISO/TC 206
    Fine ceramics
  • 81.060.30
    Advanced ceramics

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF58

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 18452:2005

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах