Тезис 

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2004-09
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Electron probe microanalysis
  • 71.040.99
    Other standards related to analytical chemistry

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 17470:2004
  • Пересмотрен
    ISO 17470:2014

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.