Тезис 

ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2004-03
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202/SC 4
    Scanning electron microscopy
  • 37.020
    Optical equipment

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 16700:2004
  • Пересмотрен
    ISO 16700:2016

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.