Тезис 

ISO 15632 defines the most important quantities that characterize an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal processing unit as the essential parts. This International Standard is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid state ionization. It specifies minimum requirements for such spectrometers attached to an electron probe microanalyser (EPMA) or a scanning electron microscope (SEM). Realization of the analysis is outside the scope of this International Standard.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2002-12
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 202
    Microbeam analysis
  • 37.020
    Optical equipment
    71.040.99
    Other standards related to analytical chemistry

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 15632:2002
  • Пересмотрен
    ISO 15632:2012

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.