Тезис 

ISO 14997:2003 establishes the physical principles and practical means for the implementation of two methods, specified in ISO 10110-7, for measuring surface imperfections. These methods are: Method l, the surface area obscured or affected by the defects, and, Method ll, the visibility of the imperfections.

Both methods are suitable for prototype, small scale or large scale production of a wide variety of optical components. Imperfection appearance or functional tolerances related to a particular component can be determined by agreement between supplier and customer.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2003-04
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 172/SC 1
    Fundamental standards
  • 37.020
    Optical equipment

Жизненный цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 14997:2003
  • Пересмотрен
    ISO 14997:2011

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.