• Фильтр:
  •  
  •  
  •  
  •  
Стандарт и/или проект находящийся в компетенции ISO/TC 202/SC 1 Секретариата Этап ICS
ISO 15932:2013
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Vocabulary
90.60
ISO 22493:2008 [Withdrawn]
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
95.99
ISO 22493:2014
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
60.60
ISO 23833:2006 [Withdrawn]
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis (EPMA) -- Vocabulary
95.99
ISO 23833:2013
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis (EPMA) -- Vocabulary
90.60

По запросу ничего не найдено