ISO 6868:2026

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Publiée (Edition 1, 2026)

ISO 6868:2026

CHF 204

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Résumé

Le présent document spécifie trois méthodes de mesure quantitative du pourcentage de teneur en masse des principaux polymorphes (quartz et cristobalite) de la silice cristalline (SC) dans les échantillons en vrac, en utilisant la diffraction des rayons X sur poudre (XRPD). Ce document fournit également des informations générales sur les capacités et les limites de pertinence des laboratoires travaillant dans le cadre des essais de routine.

Seuls les diffractomètres à rayons X à géométrie de Bragg-Brentano sont pris en compte. Les techniques XRPD sont utilisées pour caractériser les échantillons se présentant sous forme de poudres libres, lorsque la granulométrie médiane est comprise entre 1 μm et 10 μm de diamètre physique. Les échantillons massifs ne sont pas étudiés.

Bien qu’un certain nombre de méthodes d’analyse soient considérées dans le présent document, d’autres méthodes d’analyse par XRPD peuvent être envisagées, sous réserve de démontrer qu’elles produisent des résultats équivalents.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2026-08

Stade
: Norme internationale publiée [60.60]
Edition
: 1

Nombre de pages
: 55
Comité technique :
ISO/TC 146/SC 2

ICS :
13.040.30
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