Résumé
PreviewThis document describes a procedure for the determination of elastic modulus for compliant materials using atomic force microscope (AFM). Force-distance curves on the surface of compliant materials are measured and the analysis uses a two-point method based on Johnson-Kendall-Roberts (JKR) theory. This document is applicable to compliant materials with elastic moduli ranging from 100 kPa to 1 GPa. The spatial resolution is dependent on the contact radius between the AFM probe and the surface and is typically approximately10-20 nm.
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2020-01
-
Edition: 1
-
- ICS :
- 71.040.40 Méthodes d'analyse chimique
Acheter cette norme
Format | Langue | |
---|---|---|
std 1 92 | ||
std 2 92 | Papier |
- CHF92
Cycle de vie
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Suivez l'actualité de l'ISO
Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.