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This document describes a procedure for the determination of elastic modulus for compliant materials using atomic force microscope (AFM). Force-distance curves on the surface of compliant materials are measured and the analysis uses a two-point method based on Johnson-Kendall-Roberts (JKR) theory. This document is applicable to compliant materials with elastic moduli ranging from 100 kPa to 1 GPa. The spatial resolution is dependent on the contact radius between the AFM probe and the surface and is typically approximately10-20 nm.


Informations générales

  • État actuel :  Publiée
    Date de publication : 2020-01
  • Edition : 1
  • Comité technique
    :
    ISO/TC 201/SC 9
    Microscopie par sonde à balayage
  • ICS :
    71.040.40
    Méthodes d'analyse chimique

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PDF
Papier
  • CHF88

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