Le dernier examen de cette norme date de 2019. Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé Preview
ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.
Informations générales
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État actuel : PubliéeDate de publication : 2014-01
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Edition : 2
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- ICS :
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