Le dernier examen de cette norme date de 2021. Cette édition reste donc d’actualité.
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ISO 25178-72:2017 définit le format de fichier XML x3p pour le stockage et l'échange des données de topographie et de profils.
Informations générales
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État actuel : PubliéeDate de publication : 2017-05
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Edition : 1Nombre de pages : 25
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Comité technique:Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits
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- ICS :
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Etat de surfaces
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| Papier |
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Cycle de vie
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Actuellement
PubliéeISO 25178-72:2017
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Stade: 90.93 (Confirmée)Rectificatifs techniques / Amendements
PubliéeISO 25178-72:2017/Amd 1:2020
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