Le dernier examen de cette norme date de 2020. Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé Prévisualiser
L'ISO 15529:2010 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.
L'ISO 15529:2010 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques, et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.
Informations générales
-
État actuel : PubliéeDate de publication : 2010-08
-
Edition : 3Nombre de pages : 26
-
- ICS :
-
Optique et mesurage optique en général
Acheter cette norme
Format | Langue | |
---|---|---|
Papier |
- CHF118
Cycle de vie
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Révision / Rectificatifs techniques
-
Précédemment
ISO 15529:2007
-
Actuellement confirmée
ISO 15529:2010
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Suivez l'actualité de l'ISO
Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.