Cette norme a été révisée par ISO 7668:2018
Résumé
L'ISO 7668:2010 spécifie des méthodes de mesure de la réflectivité spéculaire et du brillant spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (Méthode A), 45° (Méthode B), 60° (Méthode C) et 85° (Méthode D), plus une autre méthode à 45° (Méthode E) à petit angle d'ouverture pour le mesurage de la réflectivité spéculaire.
Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs semblables.
Informations générales
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État actuel : AnnuléeDate de publication : 2010-11
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Edition : 2Nombre de pages : 14
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Comité technique:Couches organiques et couches d'oxydation anodique sur l'aluminium
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- ICS :
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Traitement de surface
Cycle de vie
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Révision / Rectificatifs techniques
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Précédemment
ISO 7668:1986
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Actuellement annulée
ISO 7668:2010 -
Révisée par
ISO 7668:2018
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