Résumé 

L'ISO 22489:2006 spécifie des exigences pour la quantification d'éléments dans un volume d'échantillon de l'ordre du micromètre, identifiés par l'analyse des rayons X produits par un faisceau d'électrons au moyen d'un spectromètre à dispersion de longueur d'onde (WDS) monté sur une microsonde de Castaing ou sur un microscope électronique à balayage (SEM).

Elle décrit le principe de l'analyse quantitative, l'utilisation générale de cette technique en termes d'éléments, de fractions massiques et d'échantillons de référence, les exigences générales relatives à l'instrument, et les modes opératoires fondamentaux concernés tels que la préparation de l'échantillon, le choix des conditions expérimentales, les mesurages, l'analyse de ces derniers et le rapport.

L'ISO 22489:2006 est destinée à l'analyse quantitative d'un échantillon massif plat et homogène au moyen d'un faisceau d'incidence normale. Elle ne spécifie pas les exigences détaillées auxquelles doivent répondre les instruments ou le logiciel de traitement des données. Il convient que les opérateurs obtiennent des informations, telles que les conditions d'installation, les modes opératoires détaillés et les spécifications de l'instrument, auprès des fabricants de tout produit utilisé.


Informations générales

  • État actuel :  Annulée
    Date de publication : 2006-12
  • Edition : 1
    Nombre de pages : 14
  • :
    ISO/TC 202/SC 2
    Microanalyse par sonde à électrons
  • 71.040.99
    Autres normes relatives à la chimie analytique

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Suivez l'actualité de l'ISO

Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.