Résumé 

L'ISO 14997:2002 décrit les principes physiques et les moyens pratiques de mise en oeuvre des deux méthodes de mesure des imperfections de surface spécifiées dans l'ISO 10110-7. Ces méthodes sont : Méthode I : Mesurage de la zone obscurcie ou affectée par les défauts, et Méthode II : Mesurage de la visibilité des imperfections.

Les deux méthodes conviennent à la production d'une grande variété d'éléments optiques, que ce soit au niveau des prototypes ou des petites ou grandes séries. L'apparence des imperfections ou les tolérances fonctionnelles pour un composant particulier peuvent être déterminées par accord client-fournisseur.


Informations générales

  • État actuel :  Annulée
    Date de publication : 2003-04
  • Edition : 1
  • :
    ISO/TC 172/SC 1
    Normes fondamentales
  • 37.020
    Matériel optique

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