Résumé 

La présente partie de l'ISO 11254 spécifie une méthode d'essai de détermination du seuil d'endommagement causé sur les surfaces optiques par un rayonnement laser simple. Cette procédure d'essai s'applique à toutes les différentes combinaisons de longueur d'onde et de durée d'impulsion de laser. Toutefois, la comparaison des données du seuil d'endommagement peut être erronée, à moins que les mesures aient été effectuées avec une même longueur d'onde, une même durée d'impulsion et un même diamètre de faisceau. La présente partie de l'ISO 11254 est provisoirement limitée aux dommages irréversibles des surfaces optiques.

NOTE : Des exemples pour les unités et échelles de seuil d'endommagement causé par laser sont donnés en annexe C. AVERTISSEMNT - L'extrapolation des données d'endommagement peut conduire à des résultats de calcul erronés et à une surestimation du seuil d'endommagement. Dans le cas des matériaux toxiques (par exemple: ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, chalcogénides, Be, Cr, Ni), cela peut conduire à de sérieux risques pour la santé. Voir en annexe C pour des commentaires supplémentaires.


Informations générales

  • État actuel :  Annulée
    Date de publication : 2000-06
  • Edition : 1
    Nombre de pages : 24
  • :
    ISO/TC 172/SC 9
    Lasers et systèmes électro-optiques
  • 31.260
    Optoélectronique. Appareils à laser

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