Résumé 

La présente Norme internationale prescrit des méthodes pour la détermination de la distorsion dans les systèmes optiques dans le but d'évaluation de la qualité. Elle s'applique aux systèmes d'imagerie optique dans le domaine spectral optique de 100 nm à 15 000 nm qui, de par leur conception, visent à assurer une géométrie d'image à symétrie de révolution. Elle s'applique aux systèmes d'imagerie électro-optiques dans la mesure où une symétrie de révolution adéquate de l'image est garantie. Par conséquent, elle ne s'applique pas aux systèmes optiques anamorphoseurs ou aux systèmes à fibres optiques.


Informations générales

  • État actuel :  Annulée
    Date de publication : 1994-08
  • Edition : 1
    Nombre de pages : 14
  • :
    ISO/TC 172/SC 1
    Normes fondamentales
  • 37.020
    Matériel optique

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