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Norme et/ou projet | Stade | TC |
---|---|---|
Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale |
40.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: méthode interférométrique |
40.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Partie 1: Huile d'immersion pour usage général en microscopie optique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Partie 1: Huile d'immersion pour usage général en microscopie optique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Microscopes — Liquides d'immersion pour microscopie optique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Liquides d'immersion pour microscopie optique |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 1: Dimensions, propriétés optiques et marquage |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage — Rectificatif technique 1 |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants — Partie 1: Filetage de type RMS (4/5 in x 1/36 in) |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Filetages de fixation des objectifs pour microscopes et des porte-objectifs correspondants — Partie 2: Filetage de type M25 X 0,75 mm |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filetage de fixation des objectifs |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Grossissement |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Valeurs, tolérances et symboles de grossissement |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Valeurs, tolérances et symboles de grossissement |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Cotes de liaison entre les tirettes et leurs logements |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Dimensions de liaison des tirettes et des logements de tirette |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification des verres de chalcogénure utilisés dans le spectre infrarouge |
40.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Lamelles couvre-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage |
90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Système de référence en microscopie de polarisation |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Filtres colorés |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires |
90.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 1: Exigences générales |
30.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 5: Détermination de la résolution optique des endoscopes optiques rigides |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 5: Détermination de la résolution optique des endoscopes optiques rigides |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 6: Vocabulaire |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 6: Vocabulaire |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 8: Exigences particulières pour les endoscopes à capsule |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 1: Définitions, portée des essais |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur, humidité |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité — Amendement 1 |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques — Amendement 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin — Amendement 1 |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 5: Essais combinés froid-basse pression |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 6: Poussière |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 6: Poussière |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 7: Ruissellement, pluie |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 7: Ruissellement, pluie — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais environnementales — Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais environnementales — Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 8: Haute pression, basse pression, immersion |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 8: Pression interne élevée, pression interne faible, immersion |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 9: Rayonnement solaire |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 9: Rayonnement solaire et désagrégation |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 10: Essai combiné de vibrations sinusoïdales-chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 10: Essai combiné de vibrations sinusoïdales et chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 11: Moisissures |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 11: Moisissures |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 12: Contamination |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 12: Contamination |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 13: Essai combiné choc, secousse ou chute libre-chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 13: Essai combiné choc, secousse ou chute libre et chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 14: Rosée, givre, glace |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 14: Rosée, givre, glace |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 15: Essai combiné vibrations aléatoires à large bande (reproductibilité moyenne)-chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 15: Essai combiné vibrations à large bande (asservissement numérique) et chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 16: Essai combiné secousse ou accélération constante-chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 16: Essai combiné secousse ou accélération constante et chaleur sèche ou froid |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 18: Essai combiné chaleur humide-pression interne basse |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai d'environnement — Partie 19: Essai combiné cycles de températures-vibrations sinusoïdales ou aléatoires |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 21: Essai combiné basse pression et température ambiante ou chaleur sèche |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 22: Chaleurs sèche, froide ou changement de température combinés avec choc ou vibration aléatoire |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Essais combinés basse pression et froid, température ambiante et chaleur sèche et humide |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 1: Définitions |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Définitions |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Vocabulaire |
90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 1: Vocabulaire |
50.00 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques |
90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques |
50.00 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 3: Comportement aux essais d'environnement |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 3: Durabilité environnementale |
90.92 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 3: Durabilité environnementale |
50.00 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques: abrasion, adhérence et résistance à l'eau |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 5: Exigences minimales pour revêtements anti-réfléchissants |
90.20 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 6: Exigences minimales pour revêtements réfléchissants |
90.20 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 7: Exigences minimales pour les traitements optiques séparateurs de faisceaux neutres |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 7: Exigences minimales pour les traitements optiques séparateurs de faisceaux neutres |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 8: Exigences minimales pour revêtements utilisés pour l'optique laser |
90.20 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 2: Objectifs pour photocopieurs de bureau |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Télescopes |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Télescopes |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Réticules pour oculaires |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Réticules pour oculaires |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Réticules pour oculaires |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 1: Tubes de 160 mm de longueur |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 1: Longueur de tubes de 160 mm |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 2: Systèmes d'optique corrigés à l'infini |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence — Partie 2: Systèmes d'optique corrigés à l'infini |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Dimensions d’interfaçage pour composants d’imagerie |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 1: Informations générales, définitions, zones climatiques et leurs paramètres |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 4: Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 6: Spécifications d'essai pour les appareils optiques médicaux |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 6: Exigences d'essai pour les instruments optiques médicaux |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 7: Spécifications d'essai pour instruments de mesure optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 8: Spécifications d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 11: Instruments optiques pour conditions d'utilisation en extérieur |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Conditions d'environnement — Partie 12: Conditions de transport des instruments optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux |
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optiques et photonique — Directives relatives au choix des essais environnementaux |
50.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 3: Imperfections des matériaux — Bulles et inclusions |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface |
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage et d'inclinaison |
40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage |
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Imperfections de surface |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 10: Tableau représentant les données d'une lentille |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 10: Tableau représentant les données d'éléments optiques et d'assemblages collés |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées |
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées |
40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques — Amendement 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Indication sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation des fronts d'onde |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 16: Surfaces diffractives |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 18: Biréfringence sous contrainte, bulles et inclusions, homogénéité, et stries |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 19: Description générale des surfaces et des composants |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif à la microscopie — Partie 1: Microscopie optique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif à la microscopie — Partie 2: Techniques avancées en microscopie optique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Vocabulaire relatif à la microscopie optique |
90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Vocabulaire relatif à la microscopie optique |
30.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Raccord d'interface de type C |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Raccord d'interface de type C |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes chirurgicaux — Partie 1: Exigences et méthodes d'essai |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Microscopes chirurgicaux — Partie 1: Exigences et méthodes d'essai |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes chirurgicaux — Partie 2: Danger de la lumière provenant des microscopes opératoires utilisés en chirurgie oculaire |
95.99 | ISO/TC 172/SC 7 |
Optique et photonique — Microscopes chirurgicaux — Partie 2: Danger de la lumière provenant des microscopes opératoires utilisés en chirurgie oculaire |
90.93 | ISO/TC 172/SC 7 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Diamètre d'optiques interchangeables pour microscopes de longueur de tube 160 mm |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Diamètre d'oculaires interchangeables |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Raccord d'interface pour appareils photographiques SLR de 35 mm (adaptateur à filetage en T) |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Marquage des stéréomicroscopes |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions minimales pour les stéréo-microscopes — Partie 1: Stéréo-microscopes à usage général |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Exigences minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 1: Stéréomicroscopes à usage général |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Prescriptions minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 2: Microscopes à haute performance |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Exigences minimales pour les stéréomicroscopes — Partie 2: Microscopes à hautes performances |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthodes d'essai des caractéristiques spectrales des lasers |
90.92 | ISO/TC 172/SC 9 |
Optique et photonique — Lasers et équipement associé aux lasers — Méthodes d'essai des caractéristiques spectrales des lasers |
40.99 | ISO/TC 172/SC 9 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes — Rectificatif technique 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour télescopes astronomiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 1: Méthodes d'essai des caractéristiques fondamentales |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 2: Méthodes d'essai pour systèmes binoculaires |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 4: Méthodes d'essai pour télescopes astronomiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission — Amendement 1 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution |
95.99 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes téléscopiques — Partie 8: Méthodes d'essai pour dispositifs de vision de nuit |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 9: Méthodes d'essai pour la courbure de champ |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 10: Méthodes d'essai pour la performance de couleur axiale |
60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques — Partie 2: Visionique |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110 |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110 |
90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instruments d'optique — Microscopes — Essai des stéréomicroscopes |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et instruments d'optique — Stéréo-microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Stéréo-microscopes — Informations délivrées à l'utilisateur |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Analyse par microfaisceaux — Spécifications instrumentales pour spectromètres de rayons X à sélection d'énergie avec détecteurs à semi-conducteurs |
95.99 | ISO/TC 202 |
Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques — Rectificatif technique 1 |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Vocabulaire |
90.60 | ISO/TC 202/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image |
95.99 | ISO/TC 202/SC 4 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image |
90.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser |
95.99 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage |
90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage |
30.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 1: Planéité du champ/Plan |
90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Désignation des objectifs de microscope — Partie 2: Correction chromatique |
95.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 2: Correction chromatique |
90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 3: Facteur de transmission spectrale |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 4: Caractéristiques de polarisation |
40.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Exigences minimales pour tubes binoculaires |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 1: Luminosité et uniformité de l'image en microscopie à champ clair |
90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 2: Propriétés d'illumination liées à la couleur en microscopie à champ lumineux |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 3: Microscopie par fluorescence à lumière incidente avec sources lumineuses incohérentes |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer l’homogénéité des matériaux optiques infrarouges |
90.93 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les stries des matériaux optiques infrarouges |
90.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les impuretés des matériaux optiques infrarouges |
90.93 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches |
90.92 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches |
40.00 | ISO/TC 202/SC 3 |
Optique et photonique — Bandes spectrales |
90.93 | ISO/TC 172 |
Optique et photonique — Prescriptions d'environnement — Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques |
90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
Microscopes — Microscopes confocaux — Données optiques des microscopes confocaux à fluorescence pour l'imagerie biologique |
60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
Optique et photonique — Systèmes télescopiques — Spécifications pour dispositifs de vision de nuit |
90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
Titre manque |
60.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Méthode d’essai pour déterminer l’indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Méthode d'essai pour l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: Méthode du réfractomètre à blocs en V |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Méthode d’évaluation des dimensions critiques par CD-SEM |
60.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Préparation des plans pour les éléments et systèmes optiques — Spécification des imperfections de surface et systèmes de mesure |
60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai sur poudre pour déterminer la résistance à l'eau des verres optiques |
90.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire |
95.99 | ISO/TC 202/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire |
90.60 | ISO/TC 202/SC 1 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai pour la résistance climatique du verre optique |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification de fluorure de calcium utilisé dans le spectre infrarouge |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Filtres optiques à absorption de masse |
60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
Optique et photonique — Spécification d'un dictionnaire de référence — Partie 1: Aperçu général sur l'organisation et la structure |
90.93 | ISO/TC 172 |
Optique et photonique — Spécification d'un dictionnaire de référence — Partie 2: Définitions des classes et des propriétés |
90.60 | ISO/TC 172 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Méthodes d'évaluation de la netteté d'image |
90.93 | ISO/TC 202/SC 4 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF |
95.99 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 2: Mappage des classes et propriétés definies dans l'ISO 23584 |
90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques |
95.99 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques |
95.99 | ISO/TC 202/SC 3 |
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques |
60.60 | ISO/TC 202/SC 3 |
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