Resumen
This document describes the influence quantities and instrument characteristics of confocal microscopy systems for areal measurement of surface topography. Because surface profiles can be extracted from surface topography images, the methods described in this document can be applied to profiling measurements as well.
Informaciones generales
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Estado: En desarrollo
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Etapa: Voto sobre el DIS iniciado: 12 semanas [40.20] -
Edición: 2Número de páginas: 27
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Comité Técnico :ISO/TC 213ICS :17.040.40
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Ciclo de vida
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PublicadoISO 25178-607:2019
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